TUGx全球技术研讨会是在世界各地举行的为期1天的技术交流会议, 结合了以往的泰瑞达用户会议(TUG)和全球芯片测试技术研讨会. 这种单日多地举行的模式使我们能够尽可能覆盖更多的用户, 同时可以提供与当地用户更相关的内容来满足您的个性化需求.


TUGx,我们努力通过泰瑞达技术人员知识经验的分享, 使您能够更深入了解我们的产品和服务, 帮助您成为测试专家. 研讨会上分享的内容旨在帮助您更好的使用泰瑞达的测试技术。

微信图片_20190213090755.png

美国地区:

San Jose, CA 圣和西,加州

Southern California 南加州

Plano, TX 普莱诺,德州

Austin, TX 奥斯汀,德州

East Coast 美东

欧洲地区:

Israel 以色列

United Kingdom 英国

Netherlands荷兰

Ireland爱尔兰

Catania卡塔尼亚

Agrate 意大利

France 法国

Munich 德国

亚洲地区: 

新加坡

马尼拉 (2020年初)

TI Clark (2020年初)

Yokohama, Japan日本横滨

Kumamoto, Japan日本熊本

Seoul, Korea 韩国首尔

Shanghai, China 中国上海

Bejing, China 中国北京

Shenzen, China 中国深圳

Hsinchu, Taiwan台湾新竹

查看完整的新闻稿,请点这里

想了解更多,请联系tugxseminars@teradyne.com