UltraSerial60G概述

泰瑞达最新基UltraFLEX测试系统上的UltraSerial60G测试板卡是业内首款可以提供完整的60Gbps高速测试的ATE解决方案,兼顾芯片的特性测试和量产测试。

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  • UltrsaSerial60G 包含了高达32路差分发射器和32路差分接收器, 用来产生和测量最高32Gbps的NRZ格式和高达60 Gbps PAM4格式。
  • 每一个差分接收器包含了一个独立的25GHz带宽的数字采样器,在没有额外Device Interface Board (DIB) 电路的情况下进行类同于bench-top信号质量的测试
  • UltraSerial60G板卡可以支持串行接口和射频同测
  • 支持芯片的高速串行接口到RF模块进行 RF-to-bits测试
  • UltraSerial60G通过业内领先的IG-XL软件开发串行接口测试
  • 32Gbps 和 56Gbps (PAM4)测试性能示例

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